Промер теоретического поля "А" и близкого к практическому "В" / иллюстрация, шкала
Промер теоретического поля "А" и близкого к практическому "В"

Информация

  • Папка: Определение микроконтраста (4 из 9)
  • Добавлена: 22.03.2009
Подробная информация

Комментарии

122.03.09, 10:40

На иллюстраци видно, на сколько больше выборок в выделении зоны "В", что иллюстрирует некий теоретический объектив. Также показано, как производится замер шумов по тёмному и светлому участкам тестовой миры. При съёмке желательно выставлять идентичные параметры, особенно диафрагму! В нашем случае была попытка уровнять объективы по возможностям, как раз за счёт 2х шагов по диафрагме, но тем не менее светосильный объектив показал и при этих значениях лучший микроконтраст. См. первую иллюстрацию в альбоме.

    223.03.09, 22:57

    Как посчитать разрешение в реальных величинах, относительно наших данных?
    Берём: размер нашей матрицы по короткой стороне в мм. - W
    количество пикселей на кадре максимального размера по этой же стороне - P
    полученный зазор в pxl при 100% различии чёрного от белого - V
    где V это только половина шага, с учётом что минимальное значение у нас 2 для растровых изображений при таком тоновом контрасте
    нам нужно узнать L в lp/cm
    L=(P/(2V+"2")/(W/10), где "2", єто два крайних деления диапазона тонов
    Для Сanon EOS 10D W=15,1mm, V=2048

    C учётом наших объективов, получаем 67,81 lp/cm и 61,65 lp/cm при MTF(70% от 100%)=0,7

    вот собственно мы и приблизились к тому, что не важно что снимать, - изображение на экране монитора или другой контрастный объект, например луну на ночном небе